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Oktober 12 - Oktober 12

XRD & XRF KOMPAKT WORKSHOP

PANalytical stellt die neuen Benchtop XRD & XRF Kompakt-Systeme vor

Der Workshop richtet sich an alle Anwender aus den Branchen Chemie, Pharma, Lebensmittel, Metalle, Farben und Lacke sowie Baustoffen, die sich mit der Überwachung von Rohstoffen und der Produktionskontrolle beschäftigen. Auch in der Wissenschaft und Forschung bieten diese Benchtop-Systeme eine Vielzahl von Anwendungsmöglichkeiten.

Zusammenfassung

Wir messen Ihre Probe: am Aeris (XRD), Epsilon (XRF)
Zeit: 09:00 - 16:30 (GMT+01:00) Europe Central
Art der Veranstaltung: Workshop
Sprache: Deutsch
Preis: kostenfrei

Programm

10:00 Begrüßung
10:15 Phasen-/Struktur-Analyse mit dem Aeris (XRD)
Röntgenbeugung im Kompaktformat: Qualitative und quantitative Phasenanalyse ohne Kompromisse und mit einfachster Bedienbarkeit
11:15 Kaffeepause
11:30 Chemische (Element-)Analyse mit der Röntgenfluoreszenz (EDXRF)
Chemische Analysen mit den Systemen der Epsilon-Serie- von Fluor bis Uran
12:30 Mittagessen
13:30 Neue Möglichkeiten für die Probenvorbereitung bei XRF
Hochpräzise Elementanalysen mit Schmelzaufschlüssen
14:00 Epsilon 1 oder Epsilon 3 (RFA), Aeris (XRD) G3 (Bildanalyse), Mastersizer 3000 (Laserbeugung)
16:30 Ende der Veranstaltung

Vortragende

Stefan Hoffmann, PANalytical GmbH
Dr. Detlef Opper, PANalytical GmbH

  • XRD & XRF KOMPAKT WORKSHOP
  • Malvern Instruments GmbH, Marie-Curie-Str. 4/1, 71083 Herrenberg, Germany
  • 12 Oktober 2017, 00:00 - 12 Oktober 2017, 00:00
  • UTC+01:00 Europe/Berlin

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